IC-FAFlow / 集成电路失效分析流程与失效案例库系统 V1.0.0
让每条失效结论都挂得住证据
失效分析的结论与证据常常是分家的:报告上写着电过应力导致栅氧击穿,支撑这个结论的形貌图、能谱结果与电性能曲线却散在不同人的电脑里;同类失效第二次发生,又查不到上一次是怎么判的。这套系统把委托受理、样品接收与流转、三类分析步骤、失效判定、案例检索与报告统计放进同一个工程库,样品编号贯穿全过程,每条判定都要挂到它引用的分析证据上。
判定记录必须引用至少一条已登记、而且属于本样品的分析证据,引用关系落库;挂不上就拒绝写入,界面给的是"判定必须有证据"加具体的补登记去处。判定人与复核人不能是同一个人,复核意见必填。
受理、接收、无损、开封、有损、判定、归档七档逐档推进,推进前先出一张条件检查面板,把当前档、目标档、能不能推进与缺什么都列出来。跳档当场拒绝并指出只能推进到哪一档;回退要填原因,记录保留,回退次数进统计,不作惩罚。
已归档案例按产品型号、封装形式、失效模式、失效机理、根因分类五个维度检索,条件取交集,结果能直接下钻到当时的判定依据。写判定时选完失效模式,型号与封装相同的同类案例会自动列出来,先看上次怎么判的。
功能
十个页签分别做什么
首页工作台先看全局,页 1 到页 8 按分析流程排,最后一张是工具页运行记录,只记每次操作的结果与否决原因,不参与业务数据。
| # | 页签 | 这一段给出什么 |
|---|---|---|
| 01 | 首页 工作台 | 在办委托数、样品总数、已登记分析步骤、待写判定、待复核判定、附件占用与上限六张统计卡,每张标注取数来源页签;另有新建委托、登记样品、登记步骤、写判定、检索案例五条快速入口。 |
| 02 | 页1 失效委托与受理 | 委托登记与受理校验、CSV 批量导入、委托进度。委托方、产品型号与封装形式在这里落定,案例检索的两个维度就取自这里。 |
| 03 | 页2 样品接收与流转 | 样品登记与批量接收、七档阶段的推进与回退、流转记录。样品清单按阶段标色,推进被拒时给出具体缺哪一步。 |
| 04 | 页3 无损分析登记 | 六种无损手段的记录:外观检查、X 射线透视、超声扫描、三维成像、电性能曲线、红外热像;可标注疑似失效位置供开封时对照,附件路径一起留档。 |
| 05 | 页4 开封与去层 | 化学开封、激光开封、机械开封三种方式的记录,含去层目标层、实际到达层与风险说明;目标层与到达层不一致时在清单里标出。 |
| 06 | 页5 有损分析与失效定位 | 扫描电镜形貌、能谱成分、聚焦离子束、光束诱导电阻变化、探针测试五种手段的记录,含失效点坐标与原点约定、成分结果。 |
| 07 | 页6 失效判定与根因 | 挂证据写判定、复核与改判、相似案例、字典维护。失效模式、失效机理与根因分类三层口径从这里定下来。 |
| 08 | 页7 案例库检索 | 五个维度加复核时间范围的检索、案例详情、案例清单导出。详情里能看到当时引用过的每一条证据。 |
| 09 | 页8 报告与统计 | 失效模式分布、失效机理分布、根因分布、分析方法使用频次、委托方分布与平均分析周期六项统计,每块把取数口径写在图上;报告与样品清单导出。 |
| 10 | 工具页 运行记录 | 每一次操作的结果,以及结论不成立时的原因;按结果、条数与关键字筛选并分页。清空运行记录要二次确认,且只清运行记录,清空动作本身再写一条。 |
技术做法
这套系统用什么搭的
取向与同系列的其他几套一致:能离线就离线,能不引第三方依赖就不引。这一套另有一条坚持:界面不做计算,取数与统计都在主进程完成,界面只把返回值画出来。
| 开发语言 | TypeScript。界面、业务逻辑与命令行共用同一套核心代码,共 62 个源文件 13112 行(不含测试) |
|---|---|
| 界面 | Vue 3 构建成静态资源随包发布,桌面外壳用 Electron 开原生窗口。界面进程不直接访问文件系统,读写都经主进程 |
| 计算依赖 | 业务逻辑与存储只用运行时自带的能力,不引第三方计算包;图表用自绘 SVG,不引图表库 |
| 存储 | 单文件工程库 project.json 加 attachments 目录,不使用数据库。写入先写临时文件再替换,并留一份备份 |
| 运行方式 | 解压后双击 IC-FAFlow.exe 打开窗口,关窗即退出;另有命令行入口,18 个子命令覆盖工程、委托、样品、步骤、阶段、判定、案例、报告、统计与自检 |
| 打包与部署 | 免安装目录版,删除目录即卸载,不写注册表 |
| 操作系统 | Windows 10 / 11(64 位),x64 |
| 外网 | 不需要。软件离线运行,工程库与附件都在本机目录里,数据不出本机 |
口径说明:用例数取自项目的 vitest 报告(5 个测试文件 87 条),2026-10-15 在开发机上现场实跑;源码 62 个文件 13112 行由项目的 tools 采集脚本现场统计,不含测试代码、依赖与打包产物;字典 68 条与 40 个拒绝码取自软件说明书;交付目录 320.9 MB 与 36 个文件取自发布清单 build-manifest.json,主程序大小取发布目录里的可执行文件。
功能边界
这套系统不做什么
边界刻意划在相邻环节之外:它输出的是判定与证据,不是设计参数,也不是测试向量。写在这里的每一条,在软件说明书里都有对应说明。
器件工作点、电路频响与网表仿真属于集成电路器件参数计算与电路分析系统(IC-Calc)。
测试向量生成、故障注入与覆盖率评估属于集成电路测试向量自动生成与故障诊断系统(IC-FaultGen)。
只登记分析结果与附件,仪器控制留给仪器自带的软件,这套系统不越界去接管设备。
量产测试的良率与失效分布属于集成电路测试数据分析与良率诊断系统(IC-YieldScope);这套系统看的是单只样品的失效原因与证据。
分布拟合、加速模型与寿命评估属于半导体可靠性数据分析系统(IC-ReliScope)。
样品台账、排程与通道占用属于集成电路可靠性试验过程管理系统(IC-RelLab)。
主表用的是每页 200 行分页,虚拟滚动没做;案例详情能下钻到证据记录,但不读附件图片字节,附件缩略图没做。这两条写在说明书第九章,不写进功能表。
运行环境
装在什么机器上
| 操作系统 | Windows 10 / 11(64 位) |
|---|---|
| 硬件建议 | 4 GB 及以上内存、2 GB 及以上可用硬盘空间(交付目录约 321 MB);工程库的附件另按实际图片与报告量计算 |
| 安装方式 | 免安装目录版,解压后双击 IC-FAFlow.exe 即可;删除目录即卸载。不需要预装 Node、Python、Java 或数据库 |
| 外网 | 不需要;工程库与附件都在本机目录,记录不上传 |
下一步
拿一只你自己的样品走一遍
把一只脱敏后的样品与它的分析记录给我们,我们按你的阶段口径与字典跑一遍。判定与证据的对应关系在界面上可以直接点开,不用翻附件目录。